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特許情報


発明の名称
TFII-Iを利用したスクリーニング方法 
発明者
半田宏, 小倉　裕次.  
種別
特許 
状態
公開 
出願人
国立大学法人東京工業大学.  
出願日
2005/12/28
出願番号
特願2005-379612
公開日
2007/07/12
公開番号
特開2007-175019
備考
審査未請求取下

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