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特許情報


発明の名称
液晶の評価方法及び液晶パネルの評価方法 
発明者
VACHAMARTIN, 平田修造, 李先翊, 野田紘志, 青木　良夫, 楠本　哲生, 岩下　芳典.  
種別
特許 
状態
登録 
出願人
国立大学法人東京工業大学, ＤＩＣ株式会社.  
出願日
2013/09/04
出願番号
特願2013-183461
公開日
2015/03/16
公開番号
特開2015-049231
登録日
2017/09/29
登録番号
特許第6213075号

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