発明者,発明の名称,種別,状態,出願人,出願日,出願番号,公開日,公開番号,登録日,登録番号
"三上貴正,濱田崇行,添田智美,藤沼智洋,岸村雄平","検査対象物の状態評価装置","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, 株式会社フジタ, 株式会社シスミック","2016/05/12","特願2016-096094","2017/11/16","特開2017-203714",,