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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:InP hot-electron transistors with emitter mesa fabricated between gate electrodes for reduction in emitter-gate gate-leakage current 
著者
和文: Katsuhiko Takeuchi, Hiroshi Maeda1, Ryo Nakagawa1, Yasuyuki Miyamoto, Kazuhito Furuya.  
英文: Katsuhiko Takeuchi, Hiroshi Maeda1, Ryo Nakagawa1, Yasuyuki Miyamoto, Kazuhito Furuya.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn. J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 43    No. 2A    pp. L183-L186
出版年月 2004年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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