Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Kelvin probe force microscopy study of charging nanocrystalline silicon dots 
著者
和文: M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda.  
英文: M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:第65回応用物理学会学術講演会 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2004年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.