The Development of High-resolution Transmission Electron Microscope (HRTEM) Combined with AFM for Simultaneous Observation of the Structure and Force of the Nanocontact
著者
和文:
S. Shibata,
Y. Tanishiro,
Y. Kondo,
H. Minoda,
K. Takayanagi.
英文:
S. Shibata,
Y. Tanishiro,
Y. Kondo,
H. Minoda,
K. Takayanagi.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Annual American Physical Society March Meeting 2004
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