Density of Silicon Atoms in the Si(111)■RT2（3） x ■RT2（3） -Ag Structure Studied by In Situ UHV Reflection Electron Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Density of Silicon Atoms in the Si(111)■RT2（3） x ■RT2（3） -Ag Structure Studied by In Situ UHV Reflection Electron Microscopy

著者

和文:	Y.Tanishiro, K.Takayanagi, K.Yagi.
英文:	Y.Tanishiro, K.Takayanagi, K.Yagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Surface Science Letter

巻, 号, ページ

Vol. 258 pp. L687-L690

出版年月

1991年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文: