AFM current imaging for surface oxidized nanocrystalline silicon dot

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	AFM current imaging for surface oxidized nanocrystalline silicon dot

著者

和文:	M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda, Y. Fu, M. Willander.
英文:	M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda, Y. Fu, M. Willander.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	International Symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies

巻, 号, ページ

出版年月

2004年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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英文: