Study of charge quantization in individual silicon quantum dots using Kelvin Probe Force Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Study of charge quantization in individual silicon quantum dots using Kelvin Probe Force Microscopy

著者

和文:	M. A. Salem, Y. Tsuchiya, K. Usami, H. Mizuta, S. Oda.
英文:	M. A. Salem, Y. Tsuchiya, K. Usami, H. Mizuta, S. Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Solid State Devices and Materials Conference, Extended Abstracts

巻, 号, ページ

出版年月

2004年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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英文: