Probing electron charging in nanocrystalline Si dots using Kelvin Probe Force Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Probing electron charging in nanocrystalline Si dots using Kelvin Probe Force Microscopy

著者

和文:	M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda.
英文:	M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 85 No. 15 pp. 3262-3264

出版年月

2004年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文: