The formation of nanometer-scale gaps by electrical degradation and their application to C$_{60}$ transport measurements

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	The formation of nanometer-scale gaps by electrical degradation and their application to C$_{60}$ transport measurements

著者

和文:	K. Tsukagoshi, E. Watanabe, I. Yagi, Y. Aoyagi.
英文:	K. Tsukagoshi, E. Watanabe, I. Yagi, Y. Aoyagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Microelectronic Engineering

巻, 号, ページ

Vol. 73/74 No. 73/74 pp. 686-688

出版年月

2004年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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