Morphological effect of epitaxial Ag films with thickness of the order of nanometers on the tribological properties of a single-crystal silicon surface in an ultra-high-vacuum environment

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Morphological effect of epitaxial Ag films with thickness of the order of nanometers on the tribological properties of a single-crystal silicon surface in an ultra-high-vacuum environment

著者

和文:	M. Goto, T. Nakahara, F. Honda.
英文:	M. Goto, T. Nakahara, F. Honda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. I. Mech. E. Part J: J. Eng. Tribology

巻, 号, ページ

Vol. 218 No. J4 pp. 279-291

出版年月

2004年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: