Independent Determination of Refractive Index and Film Thickness of Au-thiol SAMs with Surface Plasmon Resonance Spectroscopy”

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Independent Determination of Refractive Index and Film Thickness of Au-thiol SAMs with Surface Plasmon Resonance Spectroscopy”

著者

和文:	玉田薫.
英文:	Kaoru TAMADA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	2nd International Symposium on Technology for Novel High-Functional Materials

巻, 号, ページ

pp. 1

出版年月

1999年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:	Tokyo, Japan