Characterization of (Bi,Nd)4Ti3O12/HfO2/p-type Si structures for MFIS-FeRAM application

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of (Bi,Nd)₄Ti₃O₁₂/HfO₂/p-type Si structures for MFIS-FeRAM application

著者

和文:	Y. Tabuchi, K. Aizawa, T. Tamura, K. Takahashi, H. Hoko, K. Kato, Y. Arimoto, H. Ishiwara.
英文:	Y. Tabuchi, K. Aizawa, T. Tamura, K. Takahashi, H. Hoko, K. Kato, Y. Arimoto, H. Ishiwara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	17th Intern. Sympo. on Integrated Ferroelectrics

巻, 号, ページ

No. 3-33-P

出版年月

2005年4月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:	Shanghai