SBT/HfO<sub>2</sub>/Si構造デバイスにおけるデータ保持特性の温度依存性 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	SBT/HfO₂/Si構造デバイスにおけるデータ保持特性の温度依存性
英文:

著者

和文:	會澤康治, 田村哲朗, 有本由弘, 石原宏.
英文:	會澤康治, 田村哲朗, 有本由弘, 石原宏.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	2005年(平成17年)春季第52回応用物理学関係連合講演会
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 31a-P4-2

出版年月

2005年3月

出版者

和文:
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会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:	埼玉大学
英文:

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