角度分解X線光電子分光法によるPrシリケート／Si(100)界面近傍の深さ方向化学結合状態分析

論文・著書情報

タイトル

和文:	角度分解X線光電子分光法によるPrシリケート／Si(100)界面近傍の深さ方向化学結合状態分析
英文:	Depth Profiling of Chemical Structures of Pr-silicate/Si(100)by Angle-resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy

著者

和文:	藤田啓嗣, 土屋良重, 野平博司, 水田　博, 丸泉琢也, 服部健雄, 小田俊理.
英文:	H. Fujita, Y. Tsuchiya, H. Nohira, H. Mizuta, T.Maruizumi, T. Hattori, S. Oda.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第52回応用物理学関係連合講演会
英文:	Extended Abstracts (The 52nd Spring Meeting, 2005); The Japan Society of Applied Physics and Related Societies

巻, 号, ページ

Vol. 1p-ZB-5

出版年月

2005年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:	さいたま
英文: