Atomic force microscope current-imaging study for current density through nanocrystalline silicon dots embedded in SiO2

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Atomic force microscope current-imaging study for current density through nanocrystalline silicon dots embedded in SiO2

著者

和文:	M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda, Y. Fu, M. Willander.
英文:	M. A. Salem, H. Mizuta, S. Oda, Y. Fu, M. Willander.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 44 (2) pp. 88-91

出版年月

2005年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: