The macroscopic tribology of Ag thin film relating to the structure in nanometric scale

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	The macroscopic tribology of Ag thin film relating to the structure in nanometric scale

著者

和文:	M. Goto, K. Akimoto, F. Honda T. Nakahara.
英文:	M. Goto, K. Akimoto, F. Honda T. Nakahara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. 1st Vienna International Conference on Micro- and Nano-Technology （ＣＤ版）

巻, 号, ページ

pp. CD:221-P-Goto-LI

出版年月

2005年3月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	1st Vienna International Conference on Micro- and Nano-Technology

開催地

和文:
英文:	Vienna