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論文・著書情報


タイトル
和文:マイクロサイズ試験片用疲労試験装置の開発 
英文: 
著者
和文: 高島　和希, 木村　高行, 下条　雅幸, 肥後　矢吉, 杉浦　眞佐, Michael V. SWAIN.  
英文: 高島　和希, 木村　高行, 下条　雅幸, 肥後　矢吉, 杉浦　眞佐, Michael V. SWAIN.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第42回日本学術会議材料連合講演会前刷集 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 260-270
出版年月 1998年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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