Highly sensitive analysis for valence band edge of C<sub>60</sub> films by total yield photoelectron spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Highly sensitive analysis for valence band edge of C₆₀ films by total yield photoelectron spectroscopy

著者

和文:	S. Gonda, M. Kawasaki, T. Arakane, H. Koinuma.
英文:	S. Gonda, M. Kawasaki, T. Arakane, H. Koinuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Mat. Res. Symp. Proc.

巻, 号, ページ

Vol. 349 pp. 325-330

出版年月

1994年

出版者

和文:
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会議名称

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英文:

開催地

和文:
英文: