Transmission Electron Diffraction Analysis of the Si(001)-2x1 Reconstructed Surface

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Transmission Electron Diffraction Analysis of the Si(001)-2x1 Reconstructed Surface

著者

和文:	T.Nakayama, K.Takayanagi. Y.Tanishiro, K.Yagi.
英文:	T.Nakayama, K.Takayanagi. Y.Tanishiro, K.Yagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc.11th International Congress on Electron Microscopy (Kyoto, 1986)

巻, 号, ページ

Vol. 2 pp. 1343-1344

出版年月

1986年

出版者

和文:
英文:	Proc.11th International Congress on Electron Microscopy (Kyoto, 1986)

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: