Verification of Scalable-Delay-Insensitive asynchronous circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Verification of Scalable-Delay-Insensitive asynchronous circuits

著者

和文:	Atsushi Yamazaki, Hiroshi Ryu, Tomohiro Yoneda.
英文:	Atsushi Yamazaki, Hiroshi Ryu, Tomohiro Yoneda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of IEICE, Letter

巻, 号, ページ

Vol. E82-D No. 3 pp. 701-703

出版年月

1999年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文: