Improvement of Resolution by Convergent-Beam Illumination in Surface Profile Images of High Resolution Transmission Electron Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Improvement of Resolution by Convergent-Beam Illumination in Surface Profile Images of High Resolution Transmission Electron Microscopy

著者

和文:	M.Mitome, K.Takayanagi, Y.Tanishiro.
英文:	M.Mitome, K.Takayanagi, Y.Tanishiro.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Ultramicroscopy

巻, 号, ページ

Vol. 33 pp. 255-260

出版年月

1990年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: