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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Characterization of Pt/SrBi2Ta2O9/Pt/SiO2/Si MFMIS structures for ferroelectric-gate FET applications 
著者
和文: E. Tokumitsu, A. Amano, G. Fujii, H. Ishiwara.  
英文: E. Tokumitsu, A. Amano, G. Fujii, H. Ishiwara.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Abst. of '99 Asian Conf. on Electrochemistry 
巻, 号, ページ     No. 1PA10    pp. 64
出版年月 1999年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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