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論文・著書情報


タイトル
和文:ミクロンサイズ試験片に対する単軸引張試験装置の開発 
英文: 
著者
和文: 森田敦, 市川祐介, 下条雅幸, 高島和希, 肥後矢吉, 杉浦眞佐.  
英文: 森田敦, 市川祐介, 下条雅幸, 高島和希, 肥後矢吉, 杉浦眞佐.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:日本金属学会講演概要 
英文: 
巻, 号, ページ Vol. 127        pp. 227
出版年月 2000年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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