Characterization of metal-ferroelectric-(matal-)insulator- semiconductor(MF(M)IS) structures using (Pb,La)(Zr,Ti)O3 andY2O3 films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of metal-ferroelectric-(matal-)insulator- semiconductor(MF(M)IS) structures using (Pb,La)(Zr,Ti)O₃ andY₂O₃ films

著者

和文:	E. Tokumitsu, D. Takahashi, H. Ishiwara.
英文:	E. Tokumitsu, D. Takahashi, H. Ishiwara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn. J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

Vol. 39 No. 9B pp. 5456-5459

出版年月

2000年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文: