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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Influence of impurities on the performance of doped well Ga In As/Inp resonant tunneling diode 
著者
和文: T.Sekiguchi, Y.Miyamoto, K.Furuya.  
英文: T.Sekiguchi, Y.Miyamoto, K.Furuya.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn. J. Appl. Phys 
巻, 号, ページ Vol. 32    No. 2B    pp. L243-L246
出版年月 1993年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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