Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文:MFMOS構造のFETにおけるメモリ保持特性の評価とデバイス構造の最適化 
英文: 
著者
和文: 尹聖民, 川口直一, 徳光永輔, 石原宏.  
英文: 尹聖民, 川口直一, 徳光永輔, 石原宏.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第47回応用物理学関係連合講演会 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 31a-P18-27/II
出版年月 2000年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.