TEM,XRDによるPMN/LSCO/CeO2/YSZ/Si薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性

論文・著書情報

タイトル

和文:	TEM,XRDによるPMN/LSCO/CeO2/YSZ/Si薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性
英文:	Analysis if Thickness Dependence of Relative Dielectric Constant of PMN/LSCO/CeO2/YSZ/Si Integrated Thin Films by TEM and XRD.

著者

和文:	木口賢紀, 佐伯淳, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭.
英文:	木口賢紀, 佐伯淳, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第13回秋季シンポジウム講演予稿集
英文:	13th Fall Meeting of The Ceramic Society of Japan.

巻, 号, ページ

No. 3A15 pp. 204

出版年月

2000年

出版者

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会議名称

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開催地

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