Influence of ultra-thin YSZ layer on heteroepitaxial CeO<sub>2</sub>/YSZ/Si(001) films analyzed by X-ray reciprocal space map

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Influence of ultra-thin YSZ layer on heteroepitaxial CeO₂/YSZ/Si(001) films analyzed by X-ray reciprocal space map

著者

和文:	Chun-Hua Chen, Atsushi Saiki, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani.
英文:	Chun-Hua Chen, Atsushi Saiki, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J.of Crystal Growth

巻, 号, ページ

Vol. 219 pp. 253-62

出版年月

2000年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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