Lifetime Analysis of Single Electron Memory from Nano-crystalline Si Dots Floating-Gate over Nano-Scale Channel Transistor

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Lifetime Analysis of Single Electron Memory from Nano-crystalline Si Dots Floating-Gate over Nano-Scale Channel Transistor

著者

和文:	B.J.Hinds, T.Yamanaka, S.Hatatani, S.Oda.
英文:	B.J.Hinds, T.Yamanaka, S.Hatatani, S.Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	第61回応用物理学会学術講演会
英文:	第61回応用物理学会学術講演会

巻, 号, ページ

pp. 4p-R-7

出版年月

2000年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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