走査型マイクロ波顕微鏡によるシリコン基板上Ba<sub>x</sub>Sr<sub>1-x</sub>TiO<sub>3</sub>薄膜の誘電特性の高速評価 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	走査型マイクロ波顕微鏡によるシリコン基板上Ba_xSr_1-xTiO₃薄膜の誘電特性の高速評価
英文:

著者

和文:	南　秀樹, アヘメト・パールハット, 知京　豊裕, M. Lippmaa, 伊高健治, 川崎雅司, 鯉沼秀臣.
英文:	南　秀樹, アヘメト・パールハット, 知京　豊裕, M. Lippmaa, 伊高健治, 川崎雅司, 鯉沼秀臣.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第48回応用物理学関係連合講演会
英文:

巻, 号, ページ

No. 2 pp. 863

出版年月

2001年

出版者

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会議名称

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開催地

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英文:

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