Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Computer Simulation and Measurement of Capacitance-Voltage Characteristics in Quantum Wire Devices of Trench-Oxide MOS Structure 
著者
和文: T. Tsukui, S. Oda.  
英文: T. Tsukui, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn. J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 34        pp. 874-877
出版年月 1995年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.