Observation of Single Electron Charging Effect in Nanocrystalline Silicon at Room Temperature Using Atomic Force Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Observation of Single Electron Charging Effect in Nanocrystalline Silicon at Room Temperature Using Atomic Force Microscopy

著者

和文:	M.Otobe, H.Yajima, S.Oda.
英文:	M.Otobe, H.Yajima, S.Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 72 pp. 1089-1091

出版年月

1998年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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英文:

開催地

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英文: