ミクロンサイズの超微小電子・機械部品用材料評価試験装置 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	ミクロンサイズの超微小電子・機械部品用材料評価試験装置
英文:

著者

和文:	高島和希, 肥後矢吉, 杉浦眞佐, M. V. Swain.
英文:	高島和希, 肥後矢吉, 杉浦眞佐, M. V. Swain.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	トライボロジー
英文:

巻, 号, ページ

No. 166 pp. 20-22

出版年月

2001年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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英文:

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