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論文・著書情報


タイトル
和文:Ｓｉ量子ドットのストレス誘起酸化抑制（Ｉ）:ＴＥＭ観察 
英文: 
著者
和文: 大町純一､西口克彦, 新井健太､小田俊理.  
英文: 大町純一､西口克彦, 新井健太､小田俊理.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第48回応用物理学関係連合講演会 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2001年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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