Correlation field analysisi of the influence of device geometry and bulk disorder on electron

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Correlation field analysisi of the influence of device geometry and bulk disorder on electron

著者

和文:	Y.Ochiai, K.Yamamoto, Y.Onishi, M.Kawabe, K.Ishibashi, JP.Bird, .Aoyagi, T.Sugano, D.K.Ferry.
英文:	Y.Ochiai, K.Yamamoto, Y.Onishi, M.Kawabe, K.Ishibashi, JP.Bird, .Aoyagi, T.Sugano, D.K.Ferry.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn.J.Appl. Phys.

巻, 号, ページ

pp. 1339

出版年月

1995年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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