Concurrent x-ray diffractometer for high throughput stractural diagnosis of epitaxial thin films
著者
和文:
M. Ohtani,
T. Fukumura,
M. Kawasaki,
K. Omote,
T. Kikuchi,
J. Harada,
A. Ohtmo,
M. Lippmaa,
T. Ohnishi,
D. Komiyama,
R. Takahashi,
Y. Matsumoto,
H. Koinuma.
英文:
M. Ohtani,
T. Fukumura,
M. Kawasaki,
K. Omote,
T. Kikuchi,
J. Harada,
A. Ohtmo,
M. Lippmaa,
T. Ohnishi,
D. Komiyama,
R. Takahashi,
Y. Matsumoto,
H. Koinuma.
各種検索
サポート
ヘルプ