TEM，XRDによるPMN/LSCO/CeO2/YSZ/Si薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性

論文・著書情報

タイトル

和文:	TEM，XRDによるPMN/LSCO/CeO2/YSZ/Si薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性
英文:	Analysis of thickness dependence of relative dielectric constant of PMN/LSCO/CeO2/YSZ/Si integrated thin films by TEM and XRD

著者

和文:	木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭.
英文:	木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	日本セラミックス協会第13回秋季シンポジウム予稿集
英文:

巻, 号, ページ

No. 3A15 pp. 204

出版年月

2000年10月

出版者

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会議名称

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開催地

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