in-situ TEMによるPZT薄膜のドメイン構造形成過程の解明

論文・著書情報

タイトル

和文:	in-situ TEMによるPZT薄膜のドメイン構造形成過程の解明
英文:	Analysis of formation process of ferroelectric domain structure in PZT thin films by in-situ TEM analysis

著者

和文:	木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭.
英文:	木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第21回電子材料研究討論会予稿集
英文:	Extended Abstracts of The 21th Electronics Division Meeting

巻, 号, ページ

No. 2PB06 pp. 81

出版年月

2001年10月

出版者

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会議名称

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開催地

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