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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Critical noise levels for low-density parity check codes 
著者
和文: J. van Mourik, D. Saad, Y. Kabashima.  
英文: J. van Mourik, D. Saad, Y. Kabashima.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Physical Review E 
巻, 号, ページ Vol. 66        pp. 026705
出版年月 2002年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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