Temperature-Gradient Epitaxy Under in situ Growth Mode Diagnostics by Scanning Reflection High-Energy Electron Diffraction

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Temperature-Gradient Epitaxy Under in situ Growth Mode Diagnostics by Scanning Reflection High-Energy Electron Diffraction

著者

和文:	T. Koida, D. Komiyama, H. Koinuma, M. Ohtani, M. Lippmaa, M. Kawasaki.
英文:	T. Koida, D. Komiyama, H. Koinuma, M. Ohtani, M. Lippmaa, M. Kawasaki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 80 pp. 565-567

出版年月

2002年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
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