Site-selective x-ray absorption fine structure analysis of an optically active center in Er-doped semiconductor thin film using x-ray-excited optical luminescence

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Site-selective x-ray absorption fine structure analysis of an optically active center in Er-doped semiconductor thin film using x-ray-excited optical luminescence

著者

和文:	Ishii M., Tanaka Y., Ishikawa T., Komuro S., Morikawa T., Aoyagi Y..
英文:	Ishii M., Tanaka Y., Ishikawa T., Komuro S., Morikawa T., Aoyagi Y..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. aphys. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 78 pp. 183

出版年月

2001年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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