Temperature and frequency dependence of charging and discharging properties in MOS memories based on nanocrystalline silicon dots

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Temperature and frequency dependence of charging and discharging properties in MOS memories based on nanocrystalline silicon dots

著者

和文:	S. Y. Huang, S. Banerjee, S. Oda.
英文:	S. Y. Huang, S. Banerjee, S. Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	MRS Spring Meeting 2002 San Francisco

巻, 号, ページ

pp. 25,A12.5

出版年月

2002年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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