Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Evidence of Electron Trapping and Emission in Nanocrystalline-Si Based Memory Devices 
著者
和文: S. Banerjee, S. Huang, S. Oda.  
英文: S. Banerjee, S. Huang, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Silicon Nanoelectrinics Workshop 
巻, 号, ページ         pp. 87,9-6
出版年月 2002年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.