Characterization of defect type and dislocation density in double oxide heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of defect type and dislocation density in double oxide heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films

著者

和文:	C.H.Chen, Takanori KIGUCHI, Astushi Saiki, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI.
英文:	C.H.Chen, Takanori KIGUCHI, Astushi Saiki, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics A

巻, 号, ページ

Vol. 76 pp. 969-973

出版年月

2003年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: