分析電子顕微鏡による Y2O3-Ta2O5混合ドープしたジルコニアバッファ層の界面構造評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	分析電子顕微鏡による Y2O3-Ta2O5混合ドープしたジルコニアバッファ層の界面構造評価
英文:	AEM investigation of interface structure of Y2O3-Ta2O5 co-doped zirconia buffer layer

著者

和文:	木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭.
英文:	Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第23回電子材料研究討論会予稿集
英文:	Extended Abstracts of The 23th Electronics Division Meeting

巻, 号, ページ

No. 1B10 pp. 28

出版年月

2003年10月

出版者

和文:	第23回電子材料研究討論会予稿集
英文:	Extended Abstracts of The 23th Electronics Division Meeting

会議名称

和文:	第23回電子材料研究討論会
英文:

開催地

和文:	川崎
英文: