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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Device Characterization of High-Electron-Mobility Transistors with Ferroelectric-Gate Structure 
著者
和文: 石原宏.  
英文: HIROSHI ISHIWARA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. 1996 IEEE GaAs IC Sympo. 
巻, 号, ページ         pp. 163
出版年月 1996年 
出版者
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会議名称
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開催地
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