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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Fracture and Fatigue in the Micrometer Scale 
著者
和文: K. Takashima, Y. Higo.  
英文: K. Takashima, Y. Higo.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. Int. Workshop on Materials Issues for MEMS/MST Devices 
巻, 号, ページ         pp. 37-43
出版年月 2003年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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