Analysis of Electrical Characteristics of La2O3 Thin Film Annealed in Vacuum and Others

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of Electrical Characteristics of La2O3 Thin Film Annealed in Vacuum and Others

著者

和文:	Yongshik Kim, Atsushi Kuriyama, Isao Ueda, 大見俊一郎, 筒井一生, 岩井洋.
英文:	Yongshik Kim, Atsushi Kuriyama, Isao Ueda, Shun-ichiro OHMI, Kazuo Tsutsui, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 569-572

出版年月

2003年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	33rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC2003)

開催地

和文:
英文:	Estoril

アブストラクト

pp.569-572